光のテスターは操作においてはメタルとは異なる点があります。
これは経験者にしかわからないことですが、検査には親機と子機をケーブルの両端に
接続して検査を行います。
これはメタルも光も同じですが、メタルは最高級のテスターでも子機側の操作は一切
不要で、データはすべて親機で読み取る事が出来ます。
光も親機(受光側)でデータは読み取りますが、様々な試験を行うには子機(発光側)で
波長やCW値を変更する必要があります。
このため子機側にも光の検査の経験者が求められます。
今回の試験方法の改善は、それを解消するためのものです。
検査対象の光ケーブル(90%は一対2本)の先端のプラグ2個をJ-Jで短絡します。
これによりケーブルは一本のケーブルと等価にすることが出来、検査はもう一方の
プラグ2個を、発光/受光の機器(親機子機)に接続すれば検査が可能です。
光ケーブルは線長が長く、移動も大変であり発光/受光検査者も通話もせねばならず
現場では結構な負荷となっていましたが、この方法で解決します。
メタルと異なり光は接続部分以外の損失は極めて小さく、施工時にメタルのような
損失を受けることはありません。施工時のミスはほぼ断線になり数値劣化は極めて
少ないのです。
それぞれのケーブルでの値がどうしても必要な、それは個々に行えばよく、全体
の検査の効率化は、このような方法で解決します。
検査は一定のトレーニングを受けた方なら発光/受光を目の前で操作が出来るで、
波長変更など、操作ミスのない検査が行なえます。
光ファイバーの検査法:
便宜上、メタルと比較のため「親機/子機」としましたが、光試験では、この概念は
無く、発光機からの光を規程の長さのファイバーを経由して受光機で検出し、その値
を元に検査用ケーブルを測定し、性能を判定します。
このため、発光機の性能(出力)で最初の基準値が異なるため、その値でゼロ調整の
必要があります。
また、MMではGIの効果を平準化するボビンなど、最近は見かけませんが、様々な
調整が必要とされた時がありました。
さらに、その光の波長で測定値もことなるのでが、発光・受光の波長が一致していなく
ても受光機で値が出るので、細かな注意が必要です。
光の損失は前述のように接合部で発生します、この接合部は融着施工でも発生します。
一番厄介なのは、寒冷時期の施工で、融着段階では問題が無くても保護チューブの加熱
段階での伸びで融着部分が引っ張られ、離断するケースがあり、様々な注意と経験が
必要となります。
光がメタルと異なるのは、メタルは広帯域にするのは周波数帯域を大きくせねば
ならず、そのための高周波特性の維持が必要となりますが、光はその部分がなく、
検査も異なるのです。
わかお かずまさ
VegaSystems
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